威盛智慧工廠

晶圓瑕疵檢測

采用威盛智能工廠晶圓瑕疵檢測加快偵測瑕疵晶圓的速度。

此套先進技術解決方案采用優化AI模型，通過分析工業攝影機拍攝的晶圓影像識別瑕疵，可適用于各種尺寸的晶圓。其通過減少注意力不足、疲倦和誤判等人為失誤，精準識別出細微的瑕疵，以達到將近100%的檢測率，且誤檢率低于5%。

威盛智能工廠晶圓瑕疵檢測是通過自動化檢測流程，協助硅晶圓制造公司和組裝廠大幅提高廠房的效率和操作員的安全性。此套解決方案結合了效能強大的Edge AI處理能力，以及與ERP網絡或企業云端無縫銜接的特性，提供詳細完整的數據分析數據，企業可以善用這些數據，進一步提高其運作效率和安全性。

主要特性

威盛智慧工廠晶圓瑕疵檢測可以快速、輕松地部署，且可擴充至多條生產線。此套解決方案可以進行優化以滿足特定的使用需求，包含以下要件：

   搭載NVIDIA RTX GPU的高效AI推論和訓練服務器

   分析影像的優化晶圓瑕疵偵測AI模型

    USB工業攝影機

核心優勢

    瑕疵檢測率已提高至將近100%

    實現誤檢率低于5%

    盡量降低人員配置成本和潛在的人為失誤

   結合無縫網絡銜接快速輕松地部署

   減少暴露在強光和化學物品中的機會，以提高員工的安全性

應用示例

威盛智慧工廠晶圓瑕疵檢測已經協助全球領先的半導體公司之一，加速瑕疵偵測流程、降低人員配置成本，并創造出更安全、干凈的環境。